Hovercraft

Zeiss

Stan: używany, ZEISS Wielosensorowa, sterowana numerycznie (CNC) maszyna do pomiaru współrzędnościowego O-INSPECT 442 Profesjonalna maszyna do pomiaru współrzędnościowego, przeznaczona do precyzyjnych pomiarów optycznych i dotykowych w przemyśle, w badaniach oraz w kontroli jakości. Na sprzedaż używana wielosensorowa maszyna do pomiaru współrzędnościowego producenta Carl Zeiss IMT GmbH. ZEISS O-INSPECT 442 łączy w sobie wysoce precyzyjne technologie pomiarowe – optyczną i dotykową – w jednej, sterowanej numerycznie (CNC) maszynie do pomiaru współrzędnościowego. Zainstalowane oprogramowanie pomiarowe ZEISS CALYPSO umożliwia wygodną analizę danych pomiarowych, a także wizualizację stanu rzeczywistego, profilu nominalnego i odchyleń. System idealnie nadaje się do kontroli jakości, narzędziowni, precyzyjnej mechaniki, techniki medycznej, a także badań i rozwoju. Dane techniczne: Producent: Carl Zeiss IMT GmbH Model: O-INSPECT 442 Typ: Maszyna do pomiaru współrzędnościowego Zakres pomiaru X: 400 mm Zakres pomiaru Y: 400 mm Zakres pomiaru Z: 200 mm Maksymalna masa detalu: 20 kg Poziom hałasu: < 70 dBA System pomiarowy: Wielosensorowy system pomiarowy Pomiar optyczny i dotykowy System głowic pomiarowych CFS Oprogramowanie pomiarowe CALYPSO Sterowane numerycznie (CNC) przebiegi pomiarowe Dane elektryczne: Napięcie zasilania: 100 / 110 / 120 / 125 / 230 / 240 V AC (±10 %) Rodzaj prądu: 1 / N / PE Częstotliwość: 50–60 Hz (±3,5 %) Pobór mocy: maks. 1500 VA Wymiary: Szerokość: 1.055 mm Głębokość: 1.351 mm Hfedpfx Anjzii Dhsljn Wysokość: 1.770 mm Waga: Maszyna do pomiaru współrzędnościowego: ok. 800 kg Maksymalna masa detalu: 20 kg Wyposażenie: Zintegrowane sterowanie Panel sterowania Komputer z urządzeniami peryferyjnymi Oprogramowanie ZEISS CALYPSO 5.2 Dokumentacja System głowic pomiarowych CFS Czujnik referencyjny Normal pomiarowy Szablon pomiarowy Obszary zastosowania: Technika pomiaru współrzędnościowego Technika pomiaru optycznego Technika pomiaru dotykowego Kontrola jakości Narzędziownia Precyzyjna mechanika Technika medyczna Badania i rozwój Zakres dostawy: Maszyna do pomiaru współrzędnościowego ZEISS O-INSPECT 442 Zintegrowane sterowanie Panel sterowania Komputer z urządzeniami peryferyjnymi Oprogramowanie ZEISS CALYPSO 5.2 Dokumentacja System głowic pomiarowych Czujnik referencyjny Normal pomiarowy Szablon pomiarowy Akcesoria zgodnie ze zdjęciami Stan: Używany Stan wizualny zgodny ze zdjęciami. Występują normalne ślady użytkowania wynikające z wieku. Stół widoczny na zdjęciach lub inne przedmioty, które nie zostały wyraźnie wymienione, nie są częścią oferty sprzedaży. Ze względu na rozmiar i wagę, wysyłka możliwa za pośrednictwem firmy spedycyjnej. Zmiany, błędy i sprzedaż przedterminowa zastrzeżone. W razie dodatkowych pytań prosimy o kontakt telefoniczny.

Stan: używany, FRT MicroSpy Nazwa urządzenia: FRT MicroSpy Mobile, numer artykułu: MSP 105 00 Numer urządzenia: MSP1033 FRT MicroSpy Mobile Przenośny optyczny profilometr do bezkontaktowych pomiarów 3D powierzchni bezpośrednio na elemencie. Dzięki swojej przenośności, MicroSpy Mobile doskonale nadaje się do mobilnych zastosowań na dużych maszynach, pojazdach, walcach, szybach lub innych dużych elementach. Umożliwia to wykonywanie w terenie pomiarów o wysokiej rozdzielczości i bezinwazyjnych, które dostarczają ważnych informacji o charakterystyce powierzchni, takich jak chropowatość, kontur, topografia, grubość warstwy, zużycie, udział nośny lub objętość. Mniejsze próbki można mierzyć bezpośrednio na stole pomiarowym. Gotowy do użycia na dużych elementach konstrukcyjnych i maszynowych. Doskonałe wartości rozdzielczości. Wysoka powtarzalność. Bezinwazyjny pomiar. Uchwyty i regulowane nóżki. Niska waga (ok. 5 kg). Specyfikacja techniczna FRT: Urządzenie: MicroSpy Mobil Zakres ruchu xy: 50 x 50 mm² Stół xy Typ: kompaktowy stół XY z otwartą ramą Podpora: mechaniczne prowadnice krzyżowe Napęd: silnik prądu stałego z wrzecionem kulowym Skok (zakres pomiarowy XY): 50 x 50 mm² (lub 20 x 20 mm² z CWL 3 mm) System pomiaru położenia: enkoder obrotowy Rozdzielczość systemu pomiarowego: 0,25 µm Dokładność powtarzalności XY: < ± 1 µm Nierównoległość stołu (na oś): < 2 µm / 50 mm (w tym nierównoległość niereprodukowalna): < 0,5 µm Prostopadłość XY: < 4 µm / 50 mm Oś Z, z napędem: Typ: Położenie: Napęd: Skok: System pomiaru położenia: Rozdzielczość systemu pomiarowego: Błąd osi: Regulacja wstępna, ręczna: Typ: prowadnica trapezoidalna z precyzyjną regulacją Zakres regulacji: 25 mm Pomiar: Minimalny odstęp między punktami xy: 1 µm Rozmiar próbki: - Waga próbki: - Minimalna prędkość pomiaru: 1 µm / s Maksymalna prędkość pomiaru: 50 mm / s Hedpfxezdnqcs Anlefn Cały system: Waga całkowita: ok. 150 kg w tym stanowisko pomiarowe: ok. 5 kg Powierzchnia podstawy stanowiska pomiarowego: ok. 0,3 x 0,3 m² Wymiary sterownika (szer. x gł. x wys.): ok. 0,65 x 0,65 x 1,0 (1,6) m³ Zasilanie wersja UE: 110 - 240 V, 50 - 60 Hz, z 16 A Zasilanie wersja USA: 110 - 240 V, 50 - 60 Hz, z 16 A Pobór mocy: typ. 300-400 W Zasilanie sprężonym powietrzem: - Temperatura otoczenia: 22°C ± 5°C Stabilność temperatury: < 0,5°C/h Warunki otoczenia: pomieszczenie pomiarowe Zakres dostawy: 1 x stół XY z zakresem ruchu 50 x 50 mm² 1 x mobilna podstawa z elektroniką 1 x chromatyczny czujnik FRT CWL 600 µm 1 x elektronika do czujnika chromatycznego 2 x klucze do komputera 2 x klucze do drzwi tylnych 1 x kabel zasilający do urządzeń 1 x mysz (PS/2) 1 x klawiatura 1 x monitor 19'' TFT Typ: FRT MicroSpy Mobile Stan: używany Zakres dostawy: (patrz zdjęcie) (Zmiany i błędy w danych technicznych zastrzegamy!) W przypadku dalszych pytań chętnie odpowiemy na nie telefonicznie.

Stan: używany, ZEISS Typ: DSM 962 Zdigitalizowany skaningowy mikroskop elektronowy DSM 962 to urządzenie wyposażone w zintegrowaną pamięć obrazu o pojemności 4 MB, dysk twardy o pojemności 40 MB do wewnętrznego przechowywania obrazów, a także napędy do zewnętrznego zapisywania danych i obrazów. Dzięki temu możliwe jest szybkie i łatwe uzyskiwanie informacji na temat składu i morfologii powierzchni próbek, aż do poziomu submikrometrowego. Dzięki zakresowi powiększenia od 5x do 300 000x możliwe jest badanie zarówno makrostruktur, jak i mikrostruktur. Dzięki specjalnym dodatkom zakres zastosowań można znacznie rozszerzyć, umożliwiając na przykład analityczne badania w mikroskopijnych obszarach powierzchni. Hodpfezdthysx Anlefn Obsługa urządzenia może odbywać się zarówno za pomocą konwencjonalnych elementów sterujących, jak i klawiatury lub myszy (opcjonalnie). Układ optyczny elektronowy i system kontroli próżni działają w sposób konwencjonalny. Funkcje pamięci obrazu obsługuje się za pomocą klawiatury lub myszy (opcjonalnie). Centralnie na przednim panelu znajduje się oddzielny ekran informacyjny do wyświetlania menu. Niniejsza instrukcja obsługi ma służyć użytkownikowi jako przewodnik, aby uzyskać jak najlepsze wyniki przy użyciu urządzenia. Wyjaśnienia zostały przedstawione w możliwie najprostszy sposób, aby nawet mniej doświadczony użytkownik mógł nabyć niezbędną wiedzę. Zakres powiększenia: 20x do 300 000x przy odległości roboczej 7 mm Skoki w sekwencji: 1-2-3-5-10 Minimalne powiększenie: 5x przy odległości roboczej 50 mm Rozdzielczość: 4 nm – gwarantowana z wolframową katodą przy 30 kV, odległości roboczej 6 mm, bez nachylenia próbki 25 nm – gwarantowana z wolframową katodą przy 1 kV, odległości roboczej 6 mm, bez nachylenia próbki 3,5 nm – gwarantowana z optymalną katodą LaB6 przy 30 kV, odległości roboczej 6 mm, bez nachylenia próbki Zakres dostawy: (DSM 962 z akcesoriami, jak na zdjęciu) Stan: używany (Zmiany i błędy w danych technicznych zastrzegamy!) Prosimy o zapytanie o możliwości transportu przed zakupem. Wszelkie dodatkowe pytania chętnie odpowiemy telefonicznie.

Stan: używany, Rok budowy: 2014, Maszyna pomiarowa Zeiss CMM Pro T2 advance 16/21, rok produkcji 2014, w bardzo dobrym stanie. Hjdpfx Anow D R Nqslofn • Numeryczny pulpit sterujący, standardowy • Wymiary płyty bazowej: Długość: 4.000 mm Szerokość: 2.000 mm Wysokość: 640 mm Całkowita wysokość urządzenia: ok. 4.500 mm • Zakres pomiarowy: Oś X: 3.200 mm Oś Y: 1.600 mm Oś Z: 2.100 mm • Dopuszczalna masa obrabianego elementu: ok. 5.000 kg Oprogramowanie: Zeiss Caligo BASIS CNC, Zeiss Caligo QS-STAT • Błąd długości pomiarowej wg ISO 10360-2: MPE-E = (27 + L/80) μm

Stan: używany, Rok budowy: 2000, Maszyna pomiarowa Zeiss Vista, rok produkcji 2000 Hodpfx Anezd Dkxolofn

Stan: bardzo dobry (używany), Rok budowy: 2001, Funkcjonalność: w pełni sprawny, zakres pomiarowy oś X: 900 mm, zakres pomiarowy osi Y: 1 800 mm, zakres pomiarowy osi Z: 700 mm, Wyposażenie: Tabliczka znamionowa dostępna, Maszyna do pomiarów współrzędnościowych Zeiss CNC, model Prismo VAST GOLD Rok produkcji: 2001 Modernizacja w 2024 i 2026 roku – kompleksowa renowacja optyczna Ostatnia kalibracja: 11/2023 Zakres pomiarowy: X = 900 mm, Y = 1800 mm, Z = 700 mm Stan techniczny i optyczny: doskonały Cechy i wyposażenie maszyny: Sterownik C99 z panelem obsługi Automatyczna kompensacja temperatury Czujniki VAST GOLD Automatyczna wymiana głowic pomiarowych, magazyn na 17 głowic Talerz do wymiany głowic pomiarowych, 20 pozycji Akcesoria do głowic pomiarowych Kulka kalibracyjna Głowica referencyjna Stacja robocza HP Z4 z systemem WIN11 i monitorem Oprogramowanie Calypso Basic 2024 Opcja QS-Stat Możliwość aktualizacji Calypso i dodatkowych opcji Dostępne również dodatkowe akcesoria i opcje Hjdjzkhzhopfx Anljfn Dostępna w krótkim terminie

Stan: gotowy do pracy (używany), Rok budowy: 2019, przebieg osi X: 900 mm, liczba osi: 3, Ta 3-osiowa maszyna ZEISS Contura 9/12/8 RDS została wyprodukowana w 2019 roku. Charakteryzuje się mocą znamionową do 600 VA, dzięki czemu nadaje się do różnych zastosowań. Jeśli szukasz urządzenia zapewniającego wysoką jakość pomiarów, rozważ zakup oferowanej przez nas maszyny CMM ZEISS Contura 9/12/8 RDS. Skontaktuj się z nami, aby uzyskać więcej informacji. Hsdsz Iycpepfx Anljfn - Wersja: REV 02- Faza/zasilanie elektryczne: 1/N/PE- Napięcie: 100–240 V~- Częstotliwość: 50–60 Hz- Moc znamionowa: maks. 600 VA

Stan: bardzo dobry (używany), Rok budowy: 2018, godziny pracy: 13 000 h, Funkcjonalność: w pełni sprawny, przebieg osi X: 3 200 mm, przesuw osi Y: 1 600 mm, przesuw osi Z: 1 500 mm, masa całkowita: 8 000 kg, Oferujemy na sprzedaż, w imieniu klienta, urządzenie do pomiarów współrzędnościowych 3D, model ZEISS PRO T advance 16/15. Urządzenie jest obecnie w pełni sprawne i podłączone do zasilania. Dane techniczne i wyposażenie: - Rok produkcji: 2018 Hsdpfoz Rmkyjx Anlefn - Liczba godzin pracy: ok. 13 000 - Sterownik: ZEISS C99N - Zakres pomiarowy: X 3200 × Y 1600 × Z 1500 mm - Obrotowo-przechylny mechanizm: ZEISS RDS-C6 - Głowica pomiarowa 3D: RST-P - Ceramiczna kulka kalibracyjna, oznaczenie C02258-d - Magazynek do automatycznej wymiany czujników RDS - 36-elementowy zestaw czujników RST - Oprogramowanie pomiarowe: ZEISS Caligo - Stanowisko komputerowe: HP Z440 G3 z procesorem Intel Xeon E5-1620 v4, 32 GB pamięci RAM i kartą graficzną NVIDIA Quadro K2200 - Płyta pomiarowa: masywna płyta ze specjalnego żeliwa, płaskość zgodna z normą DIN 876/II - Ostatnia kalibracja DAkkS: 26.02

Stan: nowe, Funkcjonalność: w pełni sprawny, Wyposażenie: Tabliczka znamionowa dostępna, dokumentacja / instrukcja obsługi, Nowy, nieużywany zestaw sond skanujących ZEISS, składający się z: ZEISS VAST XXT TL3. Głowica ZEISS VAST RDS. Kompatybilny z platformami współrzędnościowymi ZEISS PRISMO, ACCURA, CONTURA oraz platformami najnowszej generacji. Szczegółowe informacje o stanie: Hfsdpfxszuur Io Anlen Nowy, nigdy niezainstalowany/nieużywany. Kompletny zestaw akcesoriów, jak na zdjęciu.

Stan: jak nowa (maszyna wystawiennicza), Rok budowy: 2016, W zamówieniu klienta: Zakres pomiarowy: (X;Y;Z) 300 x 200 x 200 mm Niepewność pomiaru: MPE_E = ( 1,9 + L / 250 ) µm Oprogramowanie: Calypso 5.8 Przegląd najważniejszych wydarzeń • Dotykowy czujnik skanujący VAST XXT: niskie siły styku, najmniejsza kulka sondy średnica, wiele punktów pomiarowych przy użyciu Skanowanie w celu sprawdzenia kształtu • Soczewka ZEISS Discovery: duże pole widzenia bez katalogów • Czujnik światła białego. Umożliwia pomiar małych i delikatnych Bezkontaktowa kontrola powierzchni obrabianych przedmiotów ZEISS O-INSPECT oferuje najwyższej jakości czujniki optyczne i dotykowe zapewniające najwyższą wydajność. W pełni 3D, bez żadnych kompromisów w kwestii oprogramowania. Oprogramowanie ZEISS CALYPSO nie tylko dostarcza wyników w prosty sposób, ale również ułatwia identyfikację i komunikowanie przyczyn błędów. • Oprogramowanie referencyjne ZEISS CALYPSO: Obraz na żywo i wynik w jednym widoku, Hsdpfx Aodyqtqjnlsfn Możliwość projektowania w 3D CAD, okucia • zintegrowany system odbioru palet z Interfejs do automatycznego Wykrywanie temperatury ### Obraz symboliczny jest własnością producenta ###