Stacjonarne urządzenie do analizy metali

Spectro SPECTROLAB F / LAVFC01A

Producent: SPECTRO Analytical Instruments GmbH & Co. KG
Typ: SPECTROLAB F / LAVFC01A
Rok produkcji: 2004
Nr projektu/zamówienia: 16996/04
Nr laboratorium: 116996-04
Stacjonarny analizator metali / spektrometr emisyjny do analizy stopów miedzi

Stacjonarny analizator metali SPECTRO SPECTROLAB F do ilościowej analizy materiałów
za pomocą optycznej spektrometrii emisyjnej (OES/spektrometria iskrowa).
Zgodnie z dostępną oryginalną dokumentacją, system jest przeznaczony do analizy
materiałów na bazie miedzi. Zainstalowane i udokumentowane są programy CU-00 do
standaryzacji materiałów na bazie miedzi, CU-20 do stopów Cu/Zn oraz CU-70 do stopów Cu/Al.
Spektrometr posiada trzy udokumentowane układy optyczne i kanały pomiarowe do analizy
wielu pierwiastków stopowych i dodatkowych. Obejmuje to m.in. Cu, Zn, Pb, Sn, Al, Fe, Ni, Si, Mn, Mg, Cr, Co, Cd, Sb, P i S.
Do urządzenia dołączona jest obszerna oryginalna dokumentacja, w tym protokoły testów i
fotopowielaczy, dokumentacja konfiguracji, dokumentacja standaryzacji oraz
instrukcja obsługi oprogramowania Spark Analyzer Vision. Dodatkowo dostępne są różne
próbki do ponownej kalibracji/próbki referencyjne oraz akcesoria.
Dostępny jest wydruk z analizy z dnia 20.12.2022, dokumentujący praktyczne zastosowanie
systemu do analizy materiałów CuZn40Pb2. Wydruk zawiera wartości pomiarowe dla wielu
pierwiastków stopowych i śladowych.
Todpfxezx Dwns Akveb

Używany stan z oznakami zużycia wynikającymi z wieku i użytkowania.
Urządzenie pochodzi z roku 2004. Dostępna jest obszerna dokumentacja specyficzna dla urządzenia, akcesoria
oraz próbki do ponownej kalibracji/próbki referencyjne. Możliwość wykonywania analiz materiałowych
jest potwierdzona dostępnymi wydrukami z analiz przeprowadzonych w grudniu 2022.

Zakres dostawy
• Analizator metali SPECTRO SPECTROLAB F
• Dostępne próbki do ponownej kalibracji/próbki referencyjne
• Różne próbki i standardy
• Zestaw kabli/dostępne przewody połączeniowe
• Drobne części i materiały eksploatacyjne
• Adaptery do drobnych części
• Dostępne dyski bornitrydowe
• Dostępne akcesoria SPECTRO
• Nośniki oprogramowania/danych, w tym SPECTRO Data Backup
• Dokumentacja i materiały testowe
• Instrukcja obsługi Spark Analyzer Vision
• Dokumentacja dotycząca DIA 2000 / DIA2000SE
• Protokoły testów fotopowielaczy
• Dokumentacja konfiguracji i standaryzacji
Komputer, monitor i drukarka są wymienione w oryginalnej dokumentacji dostawy.

Metoda pomiaru: Opticzna spektrometria emisyjna (OES) / Spektrometria iskrowa
Wykonanie: Stacjonarny analizator metali
System odczytu: MIKRO 8
Kalibracja: Materiały na bazie miedzi
Zastosowania: Cu-20 / Cu-70
Standaryzacja: CU-00 – materiał bazowy Cu
Zainstalowane programy:
CU-00 – Standaryzacja materiału bazowego Cu
CU-20 – Stopy Cu/Zn
CU-70 – Stopy Cu/Al
Układ optyczny:
1 × optyka UV, udokumentowana z 6 liniami
2 × optyki powietrzne, udokumentowane z 13 / 7 liniami
Optyka 1: 3600 / 750
Optyka 2: 3600 / 750
Optyka 3: 2400 / 750
Monochromator: Nie
Źródło wzbudzenia: 3000 / 300 Hz / Czysty Ar
Napięcie zasilania: 230 V
Częstotliwość sieci: 50 Hz
Język operacyjny: Niemiecki
Udokumentowane pierwiastki:
Cu, Zn, Pb, Sn, Al, Fe, Ni, Si, Mn, Mg, Cr, Co, Cd, Sb, P, S

Fotopowielacze: głównie R6350, pojedyncze kanały UV R6351 zgodnie z dokumentacją testową
Oprogramowanie zgodnie z dokumentacją: DIA 2000 Basis / DIA2000SE, Spark Analyzer Vision
Instrukcja obsługi Spark Analyzer Vision: Wersja 09/2004
Udokumentowana wersja oprogramowania: 1.40.0xx

Ogłoszenie zostało przetłumaczone automatycznie. Błędy w tłumaczeniu są możliwe.