Urządzenie do pomiaru powierzchni

PERTHEN Perthometer S6P

Stan: dobry (używany), Mikroskop pomiarowy, uniwersalny warsztatowy mikroskop pomiarowy, mikroskop Nlsdpfx Abjh Tadpj Ajk -Producent: Leitz Wetzlar, uniwersalny warsztatowy mikroskop pomiarowy -Dokładność odczytu: patrz zdjęcia -Wymiary po złożeniu: 255/245/H470 mm -Ilość: 1 sztuka dostępna -Wymiary skrzyni transportowej: 710/230/H155 mm -Waga całkowita: 35,4 kg

Stan: używany, LIEBISCH Natrysk solny Njdjvgwc Dopfx Ab Ajlk Komora solna 43046101 230V

Stan: używany, Funkcjonalność: w pełni sprawny, Cyfrowy defektoskop ultradźwiękowy ShowRange SRFD2600. Wytrzymały detektor SRFD2600 został zaprojektowany z myślą o trudnych warunkach środowiskowych. Jego unikalna konstrukcja omniseal umożliwia odporność na wilgoć, burzę piaskową, kurz i zanieczyszczenia we wszelkiego rodzaju ekstremalnych warunkach środowiskowych, od oceanu po pustynię. Funkcja pełnego ekranu umożliwia wyświetlanie fali echa na całym ekranie, dzięki czemu operator ma maksymalny widok. Ciągły kształt fali: zwiększa kontrast wizualny kształtu fali, a pominięcie prawie nie nastąpi podczas szybkiego testowania. Pamięć masowa może przechowywać do 1000 zestawów danych, w tym przebiegi, krzywe i parametry (w tym tradycyjne 1000 kanałów). Pomiar grubości fali echo-fala echo: można uniknąć kalibracji zera, a grubość netto materiału podstawowego można zmierzyć bezpośrednio przez powłokę. Pamięć Wave Crest: koperta w czasie rzeczywistym może wyświetlać najwyższą falę wady i rejestrować maksymalną wartość wady, aby pomóc w dokładnym pozycjonowaniu i szybkim testowaniu wady, a także w analizie jakościowej za pomocą kształtu fali obwiedni. Automatyczne wzmocnienie: automatycznie dostosowuje wzmocnienie do wstępnie ustawionej wysokości amplitudy. Funkcja ostrzegania: alarm echa aferentnego/utraconej fali Zegar czasu rzeczywistego: automatycznie rejestruje datę i godzinę zapisanego przebiegu. Zamrożenie wyświetlacza: przechwytywanie kształtu fali i danych ścieżki dźwiękowej w dowolnym momencie i usuwanie klapy po zamrożeniu w celu pomiaru parametrów fali echa. Pozycjonowanie defektów: wyświetlanie w czasie rzeczywistym ścieżki dźwiękowej S, wysokości poziomej X, głębokościY i wysokości fali H. Nlodpfxettrc Aj Ab Ajk Dobry stan techniczny. Sprawdź również inne nasze oferty.

Stan: dobry (używany), Urządzenie do pomiaru konturów, konturomierz, konturograf, urządzenie do pomiaru chropowatości, pomiar chropowatości, pomiar okrągłości, sonda chropowatości -Producent: Hommel, Sonda pomiarowa do przyrządu do pomiaru chropowatości Nedpfx Ajk Hdr Teb Aslk -Sonda pomiarowa: Typ P2FE 30 / P2F E 100 -pojedyncze elementy: patrz zdjęcia -Pudełko o wymiarach: 235/105/H30 mm -Waga: 0,4 kg