Dyfraktometr rentgenowski (XRD)

PANalytical X’Pert PRO MPD

PANalytical
PANalytical X’Pert PRO MPD Dyfraktometr rentgenowski (XRD)
Wyciąg z raportu serwisowego:
Urządzenie: PANalytical X’Pert PRO MPD
Data wystawienia: 07.07.2021
Wykonane prace:
- Ponowny montaż i uruchomienie systemu
- Podłączenie zewnętrznych mediów zasilających
- Faza rozgrzewania
- Kompleksowa regulacja goniometru oraz innych komponentów
- Przeprowadzenie konserwacji, w tym wymiana uszkodzonych części
Użyte części zamienne:
L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATERIA, NI-CD
WENTYLATOR DO JEDNOSTKI X-CELERATOR
FILTR WODY
Silnik PW3050
("Urządzenie nie zostało przez nas przetestowane na miejscu")
X’Pert PRO MPD to bardzo wszechstronny i wydajny dyfraktometr rentgenowski (XRD)
do analizy strukturalnej materiałów krystalicznych.
– idealny zarówno do czystych badań naukowych, jak i rutynowych zastosowań w przemyśle
oraz na uczelniach. Dzięki modułowej konstrukcji, szybkiemu detektorowi, kontroli
temperatury i atmosfery, świetnie sprawdza się zarówno w analizach rutynowych,
jak i złożonych eksperymentach in-situ.
Najważniejsze cechy:
Różne geometrie pomiarowe:
- Odbicie w trybie Bragg-Brentano (θ–2θ)
- Geometria transmisyjna dla prób proszkowych w kapilarach
- Opcjonalnie SAXS (Small-Angle X-ray Scattering) do struktury nanomateriałów
Źródło promieniowania i detektory:
- Najczęściej anoda miedziana (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å)
- Detektor X’Celerator (1D, bardzo szybki) do równoległego zbierania danych
System modułowy z technologią PreFIX:
- Szybka wymiana optyki i stolików próbek bez konieczności ponownej kalibracji
Pomiary in-situ w wysokich temperaturach:
- Możliwość pomiarów do ok. 1200°C
- Kontrolowana atmosfera: powietrze, azot, tlen (ograniczenia dla atmosfery redukującej)
Typowe zastosowania:
- Analiza fazowa i ilościowa analiza Rietvelda
- Określanie wielkości krystalitów, mikrodeformacji, naprężeń własnych
- In-situ analiza przemian fazowych, utleniania, krystalizacji itp.
- Pomiar SAXS do analizy nanoproszków, porowatości
- Szerokie spektrum próbek: proszki, cienkie warstwy, ceramika, farmaceutyki, katalizatory itd.
Dane techniczne (typowe)
Właściwość i specyfikacja
Zakres kątowy (2θ) ok. 0,5° do 150°
Minimalny krok: do 0,002° lub dokładniej
Goniometr: pionowy, 0–0, promień ok. 240 mm
Zakres temperatur: od temperatury pokojowej do ok. 1200 °C
Atmosfera: powietrze, N₂, O₂ (ograniczone warunki redukujące)
Detektory: X’Celerator (1D), licznik proporcjonalny
Dkjdpfx Abewycatj Uju
Zastosowanie na świecie:
X’Pert PRO MPD używany na całym świecie, np. w:
- Uniwersytetach (ETH Zürich, TU Drezno, Uniwersytet Wiedeński)
- Instytutach badawczych (np. instytuty Maxa Plancka, ICN2, IS2M)
- Przemyśle (np. rozwój materiałów, farmaceutyka, chemia)
Stan: używany
Zakres dostawy: (patrz zdjęcie)
(Zastrzegamy sobie prawo do zmian i błędów w danych technicznych!)
Dodatkowe pytania chętnie wyjaśnimy telefonicznie.

Ogłoszenie zostało przetłumaczone automatycznie. Błędy w tłumaczeniu są możliwe.