Używane Particle Measuring Systems Lasair Lll 310C na sprzedaż (40 916)

Stan: używany, Rok budowy: 2024, godziny pracy: 4 h, Funkcjonalność: w pełni sprawny, numer maszyny/pojazdu: B24AA452D3, LixelKity K1 z modułem RTK – urządzenie demonstracyjne w stanie jak nowym Kjdpfx Amszfgimjmsdp Na sprzedaż oferowany jest skaner mobilny LixelKity K1 Mobile Mapping wraz z modułem RTK, będący urządzeniem demonstracyjnym w bardzo dobrym, niemal nowym stanie. LixelKity K1 to nowoczesny, wysokoprecyzyjny system do trójwymiarowego skanowania, umożliwiający szybkie i efektywne pozyskiwanie danych dotyczących budynków, placów budowy, projektów infrastrukturalnych oraz terenu. Dzięki połączeniu technologii LiDAR, kamer wysokiej rozdzielczości oraz wsparciu RTK, system pozwala na precyzyjne, georeferencjonowane zbieranie danych w czasie rzeczywistym. Wyposażenie: - Skaner 3D LiDAR LixelKity K1 - Moduł RTK zapewniający pozycjonowanie z dokładnością do centymetra - Zintegrowane kamery do tworzenia kolorowych chmur punktów - Mobilny system mapowania do zastosowań wewnętrznych i zewnętrznych - Kompaktowa i przyjazna użytkownikowi konstrukcja - Dostępne oryginalne akcesoria Zastosowania: - Geodezja i pomiary terenowe - Budownictwo oraz projekty BIM - Dokumentacja stanu istniejącego - Architektura i ochrona zabytków - Zarządzanie infrastrukturą i obiektami - Cyfrowe bliźniaki oraz modelowanie 3D Stan: - Urządzenie demonstracyjne - W pełni sprawne technicznie - Bardzo dobry stan wizualny - Gotowe do natychmiastowego użycia Możliwość obejrzenia i prezentacji po wcześniejszym umówieniu. Dodatkowe informacje, dane techniczne oraz zdjęcia dostępne na życzenie.

Stan: nowe, HEIDENHAIN System pomiaru długości Typ: LS107-2640 Długość pomiarowa: 2640 mm Nr seryjny: 3608531 Nr ID: 24388972 Kjdpfxjzcv Tke Ammsdp Stan: jak nowy, w oryginalnym opakowaniu

Stan: dobry (używany), ok. 4 sztuki h.a.l.m. System pomiarowy ogniw słonecznych, cetisPV-CTL1 cetisPV-XF2-C cetisPV-XF2-R cetisPV-XF2-P Kompletne urządzenie - używane -: Cena za jednostkę loco lokalizacja: €8,350 (netto) Kompletne urządzenie IV system pomiarowy Producent: H.A.L.M. Typ: cetisPV Składający się z: CTL1 cetisPV-XF2-C cetisPV-XF2-R cetisPV-XF2-P Kompletne urządzenie Rok produkcji: nieznany Stan: dobry Dostępne: natychmiast Kedpfxoukiu Nj Ammjdp Lokalizacja: Magazyn Frankenberg / Saksonia

Stan: używany, Rok budowy: 2015, Funkcjonalność: w pełni sprawny, numer maszyny/pojazdu: SAA81E9S0112721, Charakterystyka techniczna: Komponenty systemu Jednostka oceniająca XR1: system oparty na PC z oprogramowaniem MarWin Jednostka napędowa SD26: system trasowania bez łapek z napędzaną regulacją wysokości Stojak pomiarowy ST-G: podstawa z granitu (500 × 300 mm) z ręczną regulacją kolumny Możliwości pomiarowe Długość trasowania: 1,75 mm, 5,6 mm, 17,5 mm (DIN/ISO); 1–16 mm (ISO 12085) Prędkość trasowania: 0,2 mm/s lub 1 mm/s Prędkość pozycjonowania (oś X): 5 mm/s Regulacja wysokości (oś Z): 7,5 mm mechanizm motorowy Prędkość pozycjonowania (oś Z): 2 mm/s Zakres pomiarowy: ±250 µm (±500 µm z wydłużonym ramieniem pomiarowym) Siła pomiarowa: ~0,7 mN System pomiarowy: BFW 250 (bez łapek, mocowanie magnetyczne dla szybkiej wymiany) Oprogramowanie i ocena Ksdpfx Amsxx R Rnjmsdp Obsługiwane parametry: R, P, W, Motyw, profile D Normy: ISO, JIS, MOTIF (ISO 12085) Funkcje: - Ponad 80 parametrów powierzchni - Automatyczny dobór filtru odcięcia i ścieżki pomiarowej - Programy pomiarowe Quick & Easy - Generowanie raportów PDF - Eksport ASCII i transfer danych USB - Poziomy użytkowników oraz przypomnienia o kalibracji Sprzęt & Interfejs Komputer PC: All-in-one lub przemysłowy (opcja) Łączność: USB i Bluetooth (dla jednostki napędowej) Wyświetlacz: ekran dotykowy z intuicyjnymi ikonami Akcesoria: - Stół krzyżowy CT 120 - Zestaw kalibracyjny - Magnetyczny uchwyt ramienia pomiarowego - Opcjonalny moduł oceny konturu Stan maszyny: SPRAWNA

Stan: używany, Rok budowy: 2010, Funkcjonalność: w pełni sprawny, numer maszyny/pojazdu: 10110710, Charakterystyka techniczna: # Zakres pomiarowy [mm]: Średnica 0,2 do 50 / Długość 300 # Maks. wielkość przedmiotu: Średnica 150 / Długość 300 / Waga 10 kg # Rozdzielczość: Średnica 0,1 μm / Długość 0,1 μm / Obrót 0,018° # Dokładność: Średnica (2+D[mm]/100)μm / Długość (5+L[mm]/100)μm # Powtarzalność: Średnica 0,5 μm / Długość 3 μm Wymiary # System pomiarowy: 780*650*912 mm # Powierzchnia instalacji [m]: 0,8x0,8 Ksdsxxvpvepfx Ammjdp # Waga: 145 kg # Typ mocowania: stożek Morse'a MK2 / Zakres napięcia głowicy ruchomej 20 mm System informatyczny: Windows XP Professional Wyposażenie elektryczne # Napięcie robocze: 230/115V # Moc przyłączeniowa: 1,5 kVA / 16 A

Stan: bardzo dobry (używany), Rok budowy: 2014, Makroskop pomiarowy 3D Sterownik VR 3000K Głowica pomiarowa VR 3100 Zakres pomiarowy 24 x 18 x 10 mm Przekątna pomiarowa 30 mm Powiększenie 12x – 160x Kedpfxjzb R Iyo Ammedp Rozdzielczość 0,1 µm Automatyczne wykrywanie krawędzi

Stan: bardzo dobry (używany), Rok budowy: 2010, Czujnik obrazu 1", 6,6 megapiksela, CMOS Podwójny obiektyw telecentryczny Przesuw osi Z 30 mm Maksymalne obciążenie stołu Z 3 kg Kdedpfx Amjzb R Imomep

Stan: gotowy do pracy (używany), rodzaj prądu wejściowego: Prąd stały, napięcie wejściowe: 24 V, Endress & Hauser Soliphant 2 Ksdpfsuy S Tnox Ammsdp FTM 30 - B2AA1 Strefa EX 10 FEM 32 Zasilanie: 10 ... 55 VDC Maks. moc: 1,5 W PNP, maks. prąd: 350 mA Dostępne 3 sztuki Cena za sztukę.

Stan: bardzo dobry (używany), System pomiarowy IM-6600 Kdedpfx Amjzcd A Tsmsp Głowica pomiarowa IM-6120 Czujnik CMOS: 6,6 MP monochromatyczny Wyświetlacz: 10,4" Kolorowy monitor LCD Pole widzenia: φ100 x 200 mm Najmniejsza jednostka wyświetlania: 0,1 μm Telecentryczne oświetlenie przechodzące (pierścień 4-segmentowy) Dokładność pomiaru: Tryb pomiaru szerokokątnego: ±5 μm Tryb pomiaru wysokiej precyzji: ±2 μm Tryb pomiaru z dużym polem widzenia: ±7 +0,02L μm Tryb pomiaru ze stałą pozycją: ±4 +0,02L μm Stół: Oś X: 100 mm Oś Z: 30 mm Nośność: 1 kg

Stan: bardzo dobry (używany), Ogranicznik długości Eisele 300mm Kdodsiraqfepfx Ammsp

Stan: nowe, Nowy system pomiaru długości HEIDENHAIN. Oryginalne opakowanie zostało otwarte wyłącznie w celu wykonania zdjęć. Producent: HEIDENHAIN Typ: LS 486C Rodzaj urządzenia: Inkremetnalny zamknięty system pomiaru długości Kjdpfxjzcgz Ej Ammsdp Długość pomiarowa: 1020 mm Metoda pomiaru: inkrementalna Sygnał wyjściowy: 1 Vss Okres podziałki: 40 µm Zasada odczytu: odczyt jedno-polowy Stopień ochrony: IP53 Sposób mocowania: mocowanie zaciskowe

Stan: nowe, Nowy system pomiaru narzędzi BLUM LaserControl Micro Compact. Oryginalne opakowanie zostało otwarte wyłącznie w celu wykonania zdjęć. Kdedpfx Aezcgzfjmmjp Producent: BLUM-Novotest Seria: LaserControl Micro Compact NT Typ: 87.0634-014-NT-A6365/32-5/S1,6 Rodzaj urządzenia: laserowy system pomiaru narzędzi Wersja: Micro Compact NT Dostępna ilość: 3 sztuki

Stan: nowe, Nowy system pomiaru długości HEIDENHAIN. Oryginalne opakowanie zostało otwarte wyłącznie w celu wykonania zdjęć. Kdedpfx Ajzcgybommop Producent: HEIDENHAIN Typ: LC 183 Rodzaj urządzenia: Absolutny, zamknięty system pomiaru długości Długość pomiarowa: 540 mm Klasa dokładności: 5,0 µm Metoda pomiaru: Absolutna Interfejs danych: EnDat 02 Krok pomiarowy: 10 nm Okres podziałki: 20 µm Połączenie elektryczne: Wtyk kołnierzowy, 14-pinowy Sposób mocowania: Zintegrowana listwa montażowa Dostępna ilość: 4 szt.

Stan: nowe, HEIDENHAIN system pomiaru długości LC 183 – Długość pomiarowa 540 mm Nowy system pomiaru długości HEIDENHAIN. Oryginalne opakowanie zostało otwarte wyłącznie w celu wykonania zdjęć. Producent: HEIDENHAIN Typ: LC 183 Rodzaj urządzenia: Absolutny system pomiaru długości Długość pomiarowa: 540 mm Zasada odczytu: Odczyt jednopólowy Metoda pomiarowa: Absolutna Sygnał wyjściowy: EnDat Sposób mocowania: Mocowanie zaciskowe Stopień ochrony: IP53 Kedpszcgxwsfx Ammodp Dostępna ilość: 3 szt.

Stan: nowe, System pomiaru długości HEIDENHAIN LC 182 – Długość pomiarowa 940 mm Nowy system pomiaru długości HEIDENHAIN. Oryginalne opakowanie zostało otwarte wyłącznie w celu wykonania zdjęć. Producent: HEIDENHAIN Typ: LC 182 Rodzaj urządzenia: Absolutny system pomiaru długości Długość pomiarowa: 940 mm Krok pomiarowy: 0,001 µm Kedpozcgwmsfx Ammedp Klasa dokładności: ±3 µm Sposób mocowania: Mocowanie zaciskowe Zasada odczytu: Odczyt pojedynczego pola Stopień ochrony: IP53 Napięcie zasilania: 5 V DC ±5 % Sygnał wyjściowy: 1 Vss

Stan: dobry, jak nowy (używany), Rok budowy: 2024, godziny pracy: 1 h, Funkcjonalność: w pełni sprawny, numer maszyny/pojazdu: EG4030-i4, Przyrząd do pomiaru mimośrodu dla przekrojów od 30 do 300 mm². Kdsdpfx Amjzg H S Dsmsp

Stan: bardzo dobry (używany), Rok budowy: 2020, numer maszyny/pojazdu: 2299.001, Na sprzedaż oferowany jest wysokiej klasy modułowy tester produkcji masowej (MPT) firmy NTS Optel – profesjonalna instalacja do testowania i pomiarów, dedykowana zautomatyzowanej kontroli jakości optycznych komponentów, takich jak wafle, czujniki czy mikrooptyka. Maszyna została zaprojektowana z myślą o precyzyjnych testach masowych komponentów optycznych, gwarantując najwyższą dokładność pomiarową, niezawodność oraz elastyczność w zastosowaniach przemysłowych. Dzięki modułowej konstrukcji tester można idealnie dopasować do indywidualnych wymagań produkcyjnych lub rozwojowych. 🔍 Funkcje i wyposażenie • Zintegrowany moduł laserowy (940 nm, spolaryzowany kołowo) do precyzyjnego oświetlania optycznego • Wysokorozdzielcza kamera z automatyczną kalibracją i dużym polem widzenia • Robotyczny system obsługi wafli (EFEM) do automatycznego załadunku i rozładunku • Oprogramowanie analityczne do oceny sprawności, kontrastu, jednorodności i wydajności • Certyfikat CE, w tym blokady bezpieczeństwa oraz wykonanie kompatybilne z czystym pomieszczeniem • Intuicyjne sterowanie poprzez ekran dotykowy oraz zintegrowany system GUI • Opcje podłączeń: LAN, zasilanie i sprężone powietrze (6 bar) ⚙️ Zalety techniczne Kdjdoy R Dzgepfx Ammep • Automatyczne rejestrowanie i analiza obrazów badanych próbek (DUT) • Obsługa dedykowanych modułów programistycznych (DLL) • Niska potrzeba konserwacji, solidna konstrukcja, wysoka niezawodność operacyjna • Opcjonalnie: sterowanie wysokością Z oraz stacja obracania wafli (wafer-flip) 💡 Zastosowania Idealny do badań, rozwoju, zapewnienia jakości oraz produkcji seryjnej w branżach: • Optoelektronika • Produkcja czujników • Technologia półprzewodników • Mikrosystemy

Stan: bardzo dobry (używany), Rok budowy: 2018, Funkcjonalność: w pełni sprawny, numer maszyny/pojazdu: GX17020123, Wyposażenie: dokumentacja / instrukcja obsługi, Cyfrowa suwmiarka 2000 mm Suwmiarka warsztatowa - szczęka 300 mm Kdodpfx Aoy Drxajmmop

Stan: bardzo dobry (używany), Rok budowy: 2018, Funkcjonalność: w pełni sprawny, numer maszyny/pojazdu: 13451500, STEINLE 1345 Cyfrowy suwmiarka lekka 1500 mm Warsztatowa suwmiarka - szczęki 150 mm Obie szczęki pomiarowe ruchome Szczegóły produktu Szczęki pomiarowe z lekkiego stopu pokrytego tlenkiem Lewa szczęka pomiarowa regulowana Punkt układu otworów 20 mm, z ekstra dużymi cyframi - Oczyszczacz brudu w suwaku - Żywotność baterii do 3 lat - Prędkość przesuwu 2,5 m/s (100?/s) - Kontrastowy 20 mm wysoki wyświetlacz LCD Funkcje WŁ./WYŁ. Kdjdpfx Asy Dq Hvemmep mm/cale Preset A: 1500 mm B: 55 mm D: 150 mm E: 20 mm Odchylenie: 0,1 mm

Stan: używany, Funkcjonalność: nieprzetestowany, numer maszyny/pojazdu: TDS 784C, napięcie wejściowe: 220 V, Oscyloskop Tektronix TDS 784C Producent: Tektronix Model: TDS784C Ksdpfsx A Arljx Ammodp

Stan: używany, Ta oferta dotyczy systemu pomiarowego wizyjnego Mitutoyo 202TP. Kdjdsxzgtdopfx Ammep Urządzenie jest w pełni sprawne i gotowe do natychmiastowego wydania. Mitutoyo 202TP to system pomiarowy wizyjny — rodzaj optycznego systemu metrologicznego, który wykorzystuje obrazowanie wysokiej rozdzielczości oraz oprogramowanie do pomiaru wymiarów części bez fizycznego kontaktu. Systemy te są szeroko stosowane do precyzyjnej kontroli komponentów w branżach takich jak motoryzacja, elektronika, urządzenia medyczne i inżynieria precyzyjna. Systemy pomiarowe wizyjne eliminują wiele błędów i ograniczeń ręcznych pomiarów mikroskopowych, łącząc sterowane oświetlenie, kamery wysokiej rozdzielczości, automatyczne wykrywanie krawędzi oraz analizę komputerową, umożliwiając dokładne i powtarzalne pomiary.

Stan: bardzo dobry (używany), Funkcjonalność: w pełni sprawny, Bardzo dobre urządzenie do kalibracji wycieków w walizce. Kdjdoxz R Apspfx Ammep Inne walizki pomiarowe dostępne na zapytanie!

Stan: dobry, jak nowy (używany), Rok budowy: 2020, godziny pracy: 500 h, Funkcjonalność: w pełni sprawny, numer maszyny/pojazdu: M.1501739, Wyposażenie: Tabliczka znamionowa dostępna, dokumentacja / instrukcja obsługi, (Prosimy o podanie ceny oferty) Sprzedaż tylko na terenie Europy, w tym Turcji Cena bez opakowania; warunki dostawy: FCA (lokalizacja maszyny) ===== Dane techniczne patrz ulotka. Wszelkie prawa gwarancyjne są wyłączone. Za poprawność danych technicznych i rok produkcji, za kompletność akcesoriów i oprzyrządowania, oraz za zgodność ze wszystkimi wymogami bezpieczeństwa i ochrony środowiska określonymi w przepisach dotyczących zapobiegania wypadkom. Zakaz sprzedaży osobom prywatnym. Sprzedaż wyłącznie na terenie Europy, w tym Turcji Cena bez opakowania; Warunki dostawy: FCA (lokalizacja maszyny) ===== Dane techniczne znajdują się w załączniku. Wiodący język niemiecki. Bez gwarancji i rękojmi, w tym kompletności narzędzi i akcesoriów, a także przepisów dotyczących ochrony środowiska i bezpieczeństwa. Kdodpezcnkbefx Ammjp Brak sprzedaży prywatnej.

Stan: dobry (używany), Rok budowy: 2015, Funkcjonalność: w pełni sprawny, Zoller pomBasic był używany bardzo rzadko aż do połowy 2022 roku, jednak mimo to był corocznie serwisowany przez firmę Zoller! Kdsdezc Hu Sjpfx Ammep ZOLLER »pomBasic« to rozwiązanie do inspekcji umożliwiające pomiar i kontrolę wiertarek, frezów oraz pogłębiaczy bezpośrednio w procesie, w oświetleniu od góry. Kompaktowy i uniwersalny. Urządzenie jest oszczędne pod względem miejsca i dostosowane do pracy w warsztacie, idealne również do ustawienia bezpośrednio obok szlifierki. Przejrzysty interfejs oprogramowania, narzędzie wkładasz, ustawiasz, sprawdzasz i gotowe! W pliku PDF znajdziesz pełne wyposażenie maszyny pomiarowej.

Stan: używany, Rok budowy: 2013, numer maszyny/pojazdu: 2690/07, Mahr Perthometer PGK 120 Zakres pomiarowy: 100 [x w mm] Ksdpfx Ajy D Eadjmmjdp Maks. obciążenie: 10 kg z krzyżowym stołem System pomiarowy: MFW-250 (zakres pomiarowy w osi z ±0,25 mm) Zasada pomiaru: stykowo-indukcyjna Siły pomiarowe: 1-3 mN Głowica: głowica do pomiaru chropowatości (promień końcówki 2-5 µm, kąt otwarcia 60° i 90°)